DF-410采用适应CCD采集的C-T光学系统，平场采样，全谱接收。 创新的DF-IV全谱接受装置，实现140nm-750nm谱线分析。 独立的光谱采集、处理模块，高性能的ARM处理器，实时操作系统，独立优化的数据处理算法，可极大缩短了分析时间，提高仪器的分析精度。