FS-Pro半导体参数测试系统集成了电流电压（IV）测试、电容电压（CV）测试、脉冲测试、低频噪声测试等多种功能，适用于半导体器件的全面特性分析。该系统采用模块化PXI硬件设计，配合LabExpress测量软件，支持多通道并行测试，能够高效完成从低频特性表征到 ...